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金屬鍍層測(cè)厚儀所擁有的性能優(yōu)勢(shì)！

更新時(shí)間：2019-12-20

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1、金屬鍍層測(cè)厚儀多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪。

2、根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測(cè)試。

3、X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置，光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)，儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)。

4、客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示。

5、樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度。

6、超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)，多點(diǎn)測(cè)試。

7、金屬鍍層測(cè)厚儀采用大功率X光管及先進(jìn)的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)，激發(fā)效率更高。

8、采用行業(yè)先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)，有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率zui高可達(dá)1000Wcps。

9、采用行業(yè)先進(jìn)的極速探測(cè)器技術(shù)（SDD）分辨率低至125eV，探測(cè)面積大、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低。

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